TWE 透射波前差測(cè)試機(jī)
TWE測(cè)量?jī)x器使用雙光路測(cè)量模式，具備高精度、高動(dòng)態(tài)范圍和大像差直接測(cè)量能力，可快速切換光路類型，對(duì)各類光學(xué)元件（如透鏡、濾光片、平面玻璃等）的透射波前質(zhì)量進(jìn)行精確表征與質(zhì)量控制。
準(zhǔn)直光穿過被測(cè)光學(xué)元件后，其理想的平面波前會(huì)因元件內(nèi)部及表面的不均勻性而產(chǎn)生畸變。TWE測(cè)量機(jī)將這種波前畸變轉(zhuǎn)換為可檢測(cè)的光強(qiáng)分布圖像，通過專用算法實(shí)時(shí)重建出完整的波前相位圖，從而精確量化出波前誤差的PV值、RMS值、PSF、MTF等關(guān)鍵參數(shù)。
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400-1100nm波長范圍
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5.02×3.75mm孔徑尺寸
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＜2 nm RMS測(cè)試分辨率（相位）
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加入對(duì)比
- 臺(tái)式TWE測(cè)試儀
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產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
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產(chǎn)品參數(shù)
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應(yīng)用解決方案
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
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高精度波前測(cè)量
支持10nm RMS解析度，精準(zhǔn)捕捉光學(xué)元件的波前信息與成像質(zhì)量
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多功能測(cè)試平臺(tái)
兼容平面與透鏡類產(chǎn)品，支持快速更換Holder設(shè)計(jì)，適配不同規(guī)格產(chǎn)品測(cè)量需求
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非接觸式快速檢測(cè)
采用高穩(wěn)定性光學(xué)系統(tǒng)，采集速度快，結(jié)果重復(fù)性高
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定制化波長與輸出
支持多波段切換測(cè)試，并一鍵輸出定制報(bào)告圖表
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集成緊湊高效
模塊化設(shè)計(jì)節(jié)省空間，搭配可視化軟件界面，操作更直觀高效
產(chǎn)品參數(shù)
系列型號(hào)
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臺(tái)式TWE測(cè)試儀
vs
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波長范圍
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孔徑尺寸
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空間分辨率
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相位分辨率
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臺(tái)間差
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絕對(duì)精度
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采集速度
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實(shí)時(shí)處理速度
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電路規(guī)格
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外觀尺寸
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重量
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通訊接口
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氣壓
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溫度
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濕度
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潔凈度
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臺(tái)式TWE測(cè)試儀
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波長范圍400 ~ 1100 nm
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孔徑尺寸5.02 mm × 3.75 mm
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空間分辨率27.6 μm（依擴(kuò)束鏡而定）
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相位分辨率<2 nm RMS（依擴(kuò)束鏡而定）
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臺(tái)間差PV: 15-20 nm；RMS: 0-4 nm
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絕對(duì)精度10 nm RMS
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采集速度60 FPS
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實(shí)時(shí)處理速度10 FPS（全分辨率）
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電路規(guī)格電源：AC 220 V，50 Hz
功率：100 W
額定電流：0.5 A（Max 1A） -
外觀尺寸430 mm × 430 mm × 884.5 mm
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重量55 kg
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通訊接口以太網(wǎng)口，USB 3.0
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氣壓0.5-0.7 Mpa，Φ10 mm
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溫度15-35°C
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濕度40 ~ 65%
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潔凈度100/1000/10000 級(jí)
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